缺陷樣本生成
數據清洗、重要樣本挖掘小樣本學習技術
數據深度分析,助力智能決策
基于大模型的AI智能標準、二值化標注、聚類標注、多邊形標注
標注簡約、對人員專業要求更低
智能標注升級,人效直線提升
繼承學習、重要樣本挖掘
帶噪學習、超分辨率圖像分塊學習
預訓練權重
端云高度協同,突破產線枷鎖
多種模型壓縮方式
沉淀高精度算法模型,實現多場景模型泛化遷移
TensorRT加速,性能提升3-5倍
SDK極致優化,靈活穩定開發
缺陷:針孔、爆點
膜大面: ①破損、麻點、氣泡、凹坑 ②臟污、指紋、劃痕
端子區:損傷、金屬殼變形、外殼損傷
電話:0755-8602-8927
郵箱:Marketing@hhwytech.com
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